梅特勒XP504DR分析天平产品介绍：
凭借 Excellence Plus XP，梅特勒-托利多在分析天平领域树立了另一个里程碑。 领先的创新带来前所未有的称重性能，并在人员、样品和数据安全性方面设定了新标准。
梅特勒XP504DR分析天平技术参数：
规格 - XP504DR 分析天平
| 最大称量范围 | 101 g / 520 g |
| 可读性 | 0.1 mg / 1 mg |
| Minimum weigh (typical acc. USP) | 120 mg |
| Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) | 8 mg |
| 去皮范围 | 0...520 g |
| 重复性 | 0.1 - 0.6 mg |
| 线性 | 0.5 mg |
| 偏心负载 | 0.5 mg |
| 内部砝码校准 | proFACT, fully automatic time- and temperature-controlled adjustment |
| 外部砝码校准 | custom weights |
| 灵敏度精度 | 4.0*10^-6 •Rnt |
| Sensitivity offset | 4x10-6·Rnt |
| 灵敏度（温度漂移） | 1*10^-6/°C •Rnt |
| 灵敏度稳定性 | 1*10^-6/a •Rnt |
| 稳定时间 | 1.5 s |
| 接口 | RS-232C |
| 尺寸 | 263x487x322 mm (WxDxH) |
| 防风罩可用高度 | 235 mm |
| 秤盘尺寸 | 78*73 mm |
| 物料号 (s) | 11106045 |
| 商业名称 | 11106045 |
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